為什么要用鍍層測(cè)厚儀測(cè)鍍錫層厚度
信息來源于： 發(fā)布于：2021-09-02
為什么很多電鍍企業(yè)都需要購(gòu)買鍍層測(cè)厚儀？ 下面有泓盛小編為你講解：
鍍錫層可以很好的保護(hù)銅線不被氧化，但在電鍍加工的時(shí)候，鍍的太厚會(huì)影響銅線的導(dǎo)電性，也會(huì)增加電鍍的成本。鍍的太薄的話，可能起不到保護(hù)作用，影響銅線的使用壽命，所以鍍錫層厚度也是鍍錫銅線的一個(gè)重要的性能指標(biāo)。
根據(jù)不同客戶的使用需要，有不同規(guī)格的鍍錫銅線，線徑也從幾個(gè)mm到0.1mm不等，所以要測(cè)量鍍錫層的厚度，就要考慮到線徑較小的鍍錫銅線，以前在鍍錫銅線的生產(chǎn)過程中，經(jīng)常用到電解式測(cè)厚儀來檢測(cè)，但是測(cè)量的過程比較麻煩，而且誤差也比較大，如果對(duì)產(chǎn)品精度的要求不高，在考慮成分的情況下，電解式測(cè)厚儀也是一種比較好的選擇。
現(xiàn)在很多的客戶對(duì)產(chǎn)品的要求也相當(dāng)?shù)母?，所以常?guī)的電解式測(cè)厚儀很難達(dá)到客戶的要求，所以就要用到更精確的測(cè)厚儀器，我們推薦使用X射線鍍層測(cè)厚儀UX-720，不僅測(cè)量精確高，而且可以對(duì)銅線進(jìn)行無損檢測(cè)，既便捷又快速。是生產(chǎn)鍍錫銅線的廠家或是電鍍加工廠家及銅線使用企業(yè)很好的檢測(cè)儀器。
這是一款全新一代的X熒光測(cè)厚儀UX-720，專業(yè)應(yīng)對(duì)表面處理的檢測(cè)解決方案儀器，被廣泛應(yīng)用于電鍍及表面處理加工廠家、銅線銅排生產(chǎn)廠家、電器生產(chǎn)廠家和五金產(chǎn)品、電子元器件等生產(chǎn)廠家。
性能優(yōu)勢(shì)：
全新一代EFP算法，可以檢測(cè)多層多元素、各種元素及有機(jī)物，還具備測(cè)量同種元素在不同層的檢測(cè)，例如可以直接檢測(cè)出磁性材料及鐵基鍍鎳銅鎳中雙層鍍鎳層的厚度。
多準(zhǔn)直器任意切換，儀器配置了0.05mm、0.1mm、0.2mm和0.5mm四種準(zhǔn)置器，可以很好的應(yīng)對(duì)線徑0.1mm的鍍錫銅線的錫層厚度的測(cè)量。
自動(dòng)對(duì)焦，高低大小樣品可快速清晰對(duì)焦，大大減少了測(cè)量時(shí)間
技術(shù)參數(shù)：
1. 元素分析范圍：氯（Cl）- 鈾（U）
2. 涂鍍層分析范圍：氯（Cl）/鋰（Li）- 鈾（U）
3. 厚度最低檢出限：0.005μm
4. 成分最低檢出限：1ppm
5. 最小測(cè)量直徑0.05mm（最小測(cè)量面積0.002mm2）
6. 對(duì)焦距離：0-90mm
7. 樣品腔尺寸：530mm*570mm*150mm
8. 儀器尺寸：760mm*550mm*635mm
9. 儀器重量：100KG
鍍錫層可以很好的保護(hù)銅線不被氧化，但在電鍍加工的時(shí)候，鍍的太厚會(huì)影響銅線的導(dǎo)電性，也會(huì)增加電鍍的成本。鍍的太薄的話，可能起不到保護(hù)作用，影響銅線的使用壽命，所以鍍錫層厚度也是鍍錫銅線的一個(gè)重要的性能指標(biāo)。
根據(jù)不同客戶的使用需要，有不同規(guī)格的鍍錫銅線，線徑也從幾個(gè)mm到0.1mm不等，所以要測(cè)量鍍錫層的厚度，就要考慮到線徑較小的鍍錫銅線，以前在鍍錫銅線的生產(chǎn)過程中，經(jīng)常用到電解式測(cè)厚儀來檢測(cè)，但是測(cè)量的過程比較麻煩，而且誤差也比較大，如果對(duì)產(chǎn)品精度的要求不高，在考慮成分的情況下，電解式測(cè)厚儀也是一種比較好的選擇。
現(xiàn)在很多的客戶對(duì)產(chǎn)品的要求也相當(dāng)?shù)母?，所以常?guī)的電解式測(cè)厚儀很難達(dá)到客戶的要求，所以就要用到更精確的測(cè)厚儀器，我們推薦使用X射線鍍層測(cè)厚儀UX-720，不僅測(cè)量精確高，而且可以對(duì)銅線進(jìn)行無損檢測(cè)，既便捷又快速。是生產(chǎn)鍍錫銅線的廠家或是電鍍加工廠家及銅線使用企業(yè)很好的檢測(cè)儀器。
這是一款全新一代的X熒光測(cè)厚儀UX-720，專業(yè)應(yīng)對(duì)表面處理的檢測(cè)解決方案儀器，被廣泛應(yīng)用于電鍍及表面處理加工廠家、銅線銅排生產(chǎn)廠家、電器生產(chǎn)廠家和五金產(chǎn)品、電子元器件等生產(chǎn)廠家。
性能優(yōu)勢(shì)：
全新一代EFP算法，可以檢測(cè)多層多元素、各種元素及有機(jī)物，還具備測(cè)量同種元素在不同層的檢測(cè)，例如可以直接檢測(cè)出磁性材料及鐵基鍍鎳銅鎳中雙層鍍鎳層的厚度。
多準(zhǔn)直器任意切換，儀器配置了0.05mm、0.1mm、0.2mm和0.5mm四種準(zhǔn)置器，可以很好的應(yīng)對(duì)線徑0.1mm的鍍錫銅線的錫層厚度的測(cè)量。
自動(dòng)對(duì)焦，高低大小樣品可快速清晰對(duì)焦，大大減少了測(cè)量時(shí)間
技術(shù)參數(shù)：
1. 元素分析范圍：氯（Cl）- 鈾（U）
2. 涂鍍層分析范圍：氯（Cl）/鋰（Li）- 鈾（U）
3. 厚度最低檢出限：0.005μm
4. 成分最低檢出限：1ppm
5. 最小測(cè)量直徑0.05mm（最小測(cè)量面積0.002mm2）
6. 對(duì)焦距離：0-90mm
7. 樣品腔尺寸：530mm*570mm*150mm
8. 儀器尺寸：760mm*550mm*635mm
9. 儀器重量：100KG
