信息來源于： 發(fā)布于：2022-11-04
由于X射線管產(chǎn)生入射X射線(初級X射線)來激發(fā)被測樣品。被激發(fā)樣品中的每個元素都會發(fā)出次級X射線，不同元素發(fā)出的次級X射線具有特定的能量特征或波長特征。探測系統(tǒng)測量這些發(fā)射的次級X射線的能量和數(shù)量。然后，儀器軟件將檢測系統(tǒng)采集的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類和含量。在X射線熒光光譜儀的技術(shù)原理中，我們有更多關(guān)于X射線熒光光譜儀如何完成ROHS受控元素的分析的信息。
用X射線熒光光譜儀來進行RoHS檢測有以下優(yōu)點！
1.分析速度快
測量時間與測量精度有關(guān)，但一般很短，以便快速測量樣品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl及待測元素。
2.X射線熒光光譜與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。
x射線熒光光譜與樣品的化學(xué)鍵狀態(tài)無關(guān)，基本上與固體、粉末、液體、結(jié)晶和無定形物質(zhì)的狀態(tài)無關(guān)。(氣體密封在容器中可以分析。)然而，在高分辨率精密測量中可以看到波長變化的現(xiàn)象。尤其是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更加明顯。波長的變化用于化學(xué)勢的測定。
3.化學(xué)狀態(tài)的變化
無損分析不會引起測定中化學(xué)狀態(tài)的變化，樣品也不會散開。同一樣品可重復(fù)測量，結(jié)果具有良好的重現(xiàn)性。
4.物理分析方法
x射線熒光分析是一種物理分析方法，因此在化學(xué)性質(zhì)上屬于同一家族的元素也可以進行分析。
5.分析精度高。
樣品制備簡單，可分析固體、粉末和液體樣品。
